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电容元件剪切力测试,键合质量测试,光通讯封装测试,拉线拉力测试,光通讯TO55封装测试

推力测试、拉力测试、剪切力测试晶片与基板胶水粘接力测试、金球剪切力测试、金线拉力测试

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产品特性:推拉力测试是否进口:否产地:中国深圳
品牌:TEST型号:TEST4000类型:电脑高精度推拉力测试机
测量范围:0-200kg加压速度:100马力:100
外形尺寸:620x450x800mm重量:80kgkg电源:220V
加工定制:是传感器精度:±0.0001行程:80mm

电容元件剪切力测试,键合质量测试,光通讯封装测试,拉线拉力测试,光通讯TO55封装测试详细介绍

半导体封装推拉力测试机是一种高精度、高效率的测试设备,适用于对半导体封装产品进行推力和拉力测试,以验证其物理性能指标。该设备具有多功能自动切换的特点,包括自动识别推力和拉力,自动选择测试模式和速度,以及高速力值采集系统。


该设备配置旋转模组,可以更加准确地测量产品的变形和位移情况。软件控制自动选择对应推力和拉力,可以实现测试数据的自动处理和存储,提高测试效率和精度。此外,该设备采用高精度的传感器和测量仪器,可以更稳定地采集力量数据,确保测试结果的准确性和可靠性。


半导体封装推拉力测试机具有高精度、高效率、高稳定性和高可靠性的特点,可以广泛应用于半导体封装产品的生产和检测领域,为产品的质量和安全提供有力的保障。




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